计算芯片（ＭＣＵ）测试台架方案设计与试验验证

计算芯片（ＭＣＵ）测试台架方案设计与试验验证

刘廷娇１　葛俊良２　陈磊２　邵旭东２　沙暄晨３　梁艳艳１（通讯作者）

（上汽通用五菱汽车股份有限公司）

摘　要：目的：为了解决计算芯片（ＭＣＵ）应用前期，需针对每一款分别设计对应的开发板、进行外设的功能驱动测试、不具备通用性、制作ＰＣＢ板周期长等问题。方法：设计一种标准模块化测试台架，并对通讯和外设进行实验验证。结论：该台架整体功满足设计要求，适应于所有相同封装的ＭＣＵ，可为其测试提供一种可行方案。

关键词：国产替代；计算芯片（ＭＣＵ）；最小系统板；功能底板